優(yōu)勢(shì)
優(yōu)質(zhì)資源,助力產(chǎn)品質(zhì)量
與國(guó)際原廠建立了穩(wěn)定的戰(zhàn)略合作機(jī)制,能夠長(zhǎng)期獲取優(yōu)質(zhì)的主控,
NAND Flash及DRAM資源。
NAND Flash及DRAM資源。
優(yōu)秀產(chǎn)品性能,與各平臺(tái)高度兼容
金勝維電子具備自主開發(fā)固件程序和硬件的實(shí)力,可為移動(dòng)設(shè)備提供媲美
PC的存儲(chǔ)性能,廣泛應(yīng)用于多個(gè)主流平臺(tái),與眾多平臺(tái)建立了長(zhǎng)期穩(wěn)定
的合作關(guān)系,協(xié)助客戶順利導(dǎo)入量產(chǎn)。
PC的存儲(chǔ)性能,廣泛應(yīng)用于多個(gè)主流平臺(tái),與眾多平臺(tái)建立了長(zhǎng)期穩(wěn)定
的合作關(guān)系,協(xié)助客戶順利導(dǎo)入量產(chǎn)。
全面嚴(yán)苛測(cè)試,確保產(chǎn)品穩(wěn)定可靠
除常規(guī)測(cè)試外,還會(huì)進(jìn)行平臺(tái)兼容性測(cè)試、高中低電壓測(cè)試、高低溫循環(huán)
測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試可焊性測(cè)試、跌落測(cè)試和讀寫老化壓力測(cè)試等,提前
在研發(fā)驗(yàn)證階段解決并完善可能出現(xiàn)的產(chǎn)品問(wèn)題。
測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試可焊性測(cè)試、跌落測(cè)試和讀寫老化壓力測(cè)試等,提前
在研發(fā)驗(yàn)證階段解決并完善可能出現(xiàn)的產(chǎn)品問(wèn)題。
應(yīng)用終端
相關(guān)產(chǎn)品